半导体元件有望在产品的整个寿命期内可靠运行.选择可靠性等级最高的设备限制了故障组件在现场导致产品故障的可能性.SITIME晶振提供满足这一目标的振荡器,零微机电系统场故障超过2.5亿个单位.零场故障令人印象深刻,但工程师希望确保零件已经过充分的可靠性测试.衡量半导体元件可靠性的关键指标是平均故障间隔时间,即平均故障间隔时间.MTBF越高,器件的预期寿命越长,因此器件越可靠.本应用笔记描述了SiTime微机电系统振荡器的测试过程和预测平均温度系数的计算.
许多数字应用依赖冷却系统来将工作温度保持在设计限值内,工业石英晶体振荡器应用的工作温度通常为-40℃至+85℃.但是冷却系统可能会出现故障,例如,如果风扇出现故障,这可能会导致环境温度升高到系统设计限值以上,在某些情况下达到或超过+125℃.理想情况下,系统应在这些故障条件下保持正常运行.对于许多系统来说,持续的连续操作是至关重要的,例如,蜂窝基站应该维持支持紧急呼叫的基本服务.因此,系统设计者应该选择组件来实现最大的可靠性.
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