半导体元件有望在产品的整个寿命期内可靠运行.选择可靠性等级最高的设备限制了故障组件在现场导致产品故障的可能性.SITIME晶振提供满足这一目标的振荡器,零微机电系统场故障超过2.5亿个单位.零场故障令人印象深刻,但工程师希望确保零件已经过充分的可靠性测试.衡量半导体元件可靠性的关键指标是平均故障间隔时间,即平均故障间隔时间.MTBF越高,器件的预期寿命越长,因此器件越可靠.本应用笔记描述了SiTime微机电系统振荡器的测试过程和预测平均温度系数的计算.
当今互联汽车中部署的高性能信息娱乐和无线系统越来越多,这就要求设计人员特别注意这些系统敏感频率下的电磁能量.而汽车级石英晶体振荡器减少不必要的噪声在人工智能服务器/电子控制单元或自动数据采集系统摄像机模块中,电磁干扰可能是个问题高速数据.时钟可能是噪声的最大来源,并且通常直到鉴定的最后阶段才观察到这种电磁干扰.这可能导致设计周期后期的返工,导致计划外延误和费用.
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