Rakon晶振教你如何测量声表面振荡器的相位噪声

频率元件的类别可分为多中类别,其中晶振就是其中一个类别,也即是石英晶体谐振器、陶瓷谐振器,石英晶体谐振元件和陶瓷谐振元件都是利用具有压电效应的晶体片而制成的谐振元件。这种压电晶体片当受到外加交变电场的作用时会产生机械振动，当交变电场的频率与压电晶体片的固有频率相同时，振动便变得十分强烈，这就是压电晶体谐振特性的反映。

如何测量声表面波振荡器的相位噪声

Rakon晶振集团SAW振荡器在高于300MHz的频率下表现出优异的相位噪声性能。

这种相位噪声的测量不明显。最常见的技术是使用PLL将被测振荡器的相位噪声与具有相似或优越噪声性能的参考振荡器进行比较。倍增晶体振荡器不是测量ULN SAW滤波器的合适参考振荡器，因为在相同频率下，它的噪声基底通常大于SAW振荡器的噪声基底。

类似于被测SAW滤波器的SAW振荡器是当今最好的参考振荡器。测量的相位噪声是两个晶体振荡器(被测振荡器和参考振荡器)的相位噪声的平方和。如果我们假设每个振荡器的噪声贡献相等，那么DUT的相位噪声是测量的相位噪声减去3db。

试验台的残余相位噪声也可能主要在噪声基底水平上影响测量的相位噪声。这就是为什么测试台制造商提出多通道测量和/或互相关技术，以消除由于测试台的限制。

rakon在以下测试台上进行了声表面滤波器相位噪声测量:

比较测量的主要结论如下:

最好的结果是使用DCNTS。对于每个通道和公共DUT(RF输入)的LO，使用3个类似的ULN SO，双通道测量和互相关技术完全消除了残余噪声和测试台的限制(残余噪声基底大约为-195dBc/Hz)。测量的PN是被测器件的真实PN。leeson的模型完全符合测量结果。

PN9000可以被描述为DCNTS的一个信道。使用2个相似的ULN SO作为参考(LO)和DUT，显示的PN是两个振荡器的PN+测试台的剩余PN的平方和。噪声基底的限制在-175dBc/Hz左右。每个石英晶体振荡器的单独PN不能直接实现。然而，它等于或优于显示的曲线。

e5052b不适合测量ULN SO的PN值。作为DUT，只需要1ULN SO，但是测试台的内部基准(从乘以XO得出)限制了相位噪声测量在[2kHz-300kHz范围内的偏移，即使有10，000个相关(“过夜测量”)。绘制的相位噪声仅代表DUT的近偏移或远偏移的相位噪声。对于[2kHz-300kHz范围内的偏移，显示的PN是内部参考的PN。